hustec-2005 半導體分立器件測試系統
基礎配置：
| 技術參數 | ENJ2005-B型 |
| 主極電流 | 100nA-50A |
| 擴展電流 | 100A、500A、1000A、1300A |
| 電壓分辨率 | 1mV |
| 電流分辨率 | 1nA(可擴展至10pA) |
| 測試精度 | 0.2%+2LSB |
| 測試速度 | 0.5mS/參數 |
分立器件測試儀測試參數：
漏電參數：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、 IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、 BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益參數：hFE、CTR、gFS、
導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO (Regulator)、IIN(Regulator)
混合參數：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
關斷參數：VGSOFF
觸發參數：IGT、VGT
保持參數：IH、IH+、IH-
鎖定參數：IL、IL+、IL-
分立器件測試儀系統特征：
● 測試范圍廣（19大類，27分類）
● 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS
● 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試，確保被測器件不受損壞
● 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導，其結果與器件實際值偏差很大）
● 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排除故障
