晶體管圖示儀

晶體管圖示儀產品介紹

HUSTEC2005是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統，本系統可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據客戶的實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統在失效分析，IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6to20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來，數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的半導體測試設備。

系統提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設備狀態和測試結果提供了可靠地保證。

晶體管圖示儀基本配置  

   1.測 試 電 壓： 0-2KV

   2.測 試 電 流： 0-50A，

     (可擴展到1000A)

   3.電 壓分辨率： 1mV

   4.電流 分辨率： 0.1nA            

   5.測 試 精 度： 0.2%+2LSB

   6.測試速度：0.2MS/參數

測試器件的種類

1 雙向可控硅（TRIAC）

2 結型場效應管（J-FET ）

3 MOS場效應管（Power MOSFET）

4 晶體管（Transistor）

5 絕緣柵雙極大功率晶體管（IGBT）

6 達林頓陣列(Darliknton)

7 可控硅整流器（SCR ）

8穩壓/齊納二極管（Zener）

9 三端穩壓器（REGULATOR ）

10 光電耦合器（OPTO-COUPLER）

11 二極管(Diode)

12 雙向觸發二極管（DIAC)

13 固態過壓保護器（SOVP）

14 繼電器（RELAY）

曲線測試種類

  ID vs. VDS at range of VGS              ID vs. VGS at fixed VDS

  IS vs. VSD                                        RDS vs. VGS at fixed ID

  IDSS vs. VDS                                   RDS vs. ID at several VGS

  HFE vs. IC                                        BVCE（O,S,R,V） vs. IC

  BVEBO vs. IE                                   BVCBO vs. IC

  VCE（SAT） vs. IC                          VBE（SAT） vs. IC

  VBE（ON） vs. IC                           VCE（SAT） vs. IB

系統特點

  1.圖形顯示功能                            

  2.局部放大功能

  3.程序保護大電流/電壓,以防損壞          

  4.品種繁多的曲線

  5.可編程的數據點對應                      

  6.增加線性或對數

  7.可編程延遲時間可減少器件發熱            

  8.保存和重新導入入口程序

  9.保存和導入之前捕獲圖象                  

  10.曲線數據直接導入到EXCEL

  11.曲線程序和數據自動存入EXCEL            

  12.程序保護大電流/電壓,以防損壞

技術要求

  工作溫度：25℃--40℃

  貯存溫度: -15℃--50℃

  工作濕度：45%--80%

  貯存濕度：10%--90%

  工作電壓：200v--240v

  電源頻率：47HZ--63HZ

  接地要求：供電電源應良好接地。

  通信接口：RS232 USB

  系統功耗：<150w

  設備尺寸：450mm×570mm×280mm

測試功能

   HUSTEC2005 測試系統是一套高速多用途半導體分立器件智能測試系統，它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，可真實準確測試下列各種大、中、小功率的半導體分立器件。